1.樣品描述:
樣品名稱 | 樣品編號 | 樣品型號 | 樣品數量 | 樣品外觀描述 |
Jhg0150 | TBK20201104Lab10101-1#、2# | 詳見下圖 | 2pcs | 詳見下圖 |
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1# | 2# | |||
試驗前照片 |
2.檢測設備:
設備名稱 | 型號 | 編號 | 校準有效截止日期 |
金相切片機 | Uni CUT-230 | J-012-01 | 2021.08.31 |
金相研磨機 | Uni Pol 2000 | J-013-01 | 2021.08.31 |
金相顯微鏡 | CX40M | J-014-01 | 2021.08.31 |
3.測試環境:
溫度:22℃ 濕度:46%RH
4測試結果:
兩個樣品電容內部均發現有裂紋。
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1#-50X | 2#-50X |